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OEM X Y Two Axis Surface Defect Detection Equipment In Semiconductor Industry

반도체 산업에 있는 OEM X Y 2개의 축선 표면 결점 탐지 장비

  • 하이 라이트

    X Y 2축 표면 결함 검출 장비

    ,

    OEM 표면 결함 검출 장비

    ,

    표면 결함 반도체 검출기

  • 크기
    사용자 정의 가능
  • 사용자 정의 가능
    사용 가능
  • 보증기간
    1년 또는 사례별
  • 배송 조건
    해상 / 항공 / 복합 운송 등
  • 원래 장소
    중화인민공화국 청두
  • 브랜드 이름
    ZEIT
  • 인증
    Case by case
  • 모델 번호
    SDD-S-X-X
  • 최소 주문 수량
    1 세트
  • 가격
    Case by case
  • 포장 세부 사항
    나무 케이스
  • 배달 시간
    사례별로
  • 지불 조건
    T/T
  • 공급 능력
    사례별로

반도체 산업에 있는 OEM X Y 2개의 축선 표면 결점 탐지 장비

반도체 산업의 표면 결함 검출기

 

 

애플리케이션

반도체 디스플레이 제조 분야에서 블랭크 마스크의 공정 제어 및 수율 관리를 위해

우리는 유리 기판, 마스크 및 패널 제조업체가 마스크 결함을 식별 및 모니터링하고

수율의 위험을 감수하고 핵심 기술에 대한 독립적인 R&D 능력을 향상시킵니다.

 

작동 원리

초고해상도 현미경 이미징 및 초고해상도 현미경으로 마스크 표면 결함 자동 검사

해상도 결함 감지 알고리즘.

 

특징

 모델  SDD-SX-X

 성능 감지

 감지 가능한 결함 유형  긁힘, 먼지
 감지 가능한 결함 크기  1μm
 감지 정확도(측정됨)

 불량 100% 탐지 / 회수

결함(스크래치, 먼지)

 감지 효율

  ≤10분

( 측정값 : 350mm x 300mm 마스크)

 광학 시스템 성능

 해결  1.8μm
 확대  40배
 시야  0.5mm x 0.5mm
 블루 라이트 조명  460nm, 2.5w

 

 모션 플랫폼 성능

 

 X, Y 2축 모션

대리석 조리대 평탄도: 2.5μm

Y축 Z방향 런아웃 정밀도: ≤ 10.5μm

Y축 Z방향 런아웃 정밀도: ≤8.5μm

참고: 맞춤형 생산이 가능합니다.

                                                                                                                

감지 이미지

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우리의 장점

우리는 제조업체입니다.

성숙한 과정.

근무 시간 24시간 이내에 회신하십시오.

 

우리의 ISO 인증

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우리 특허의 일부

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수상 내역 및 R&D 자격

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